随着半导体技术的进步以及半导体激光器在通信、信息处理等领域的应用日益活跃，制造过程中使用的特种气体种类和数量不断增加。本系统采用气相色谱法，可自动检测半导体材料气体中痕量杂质及组分含量。

仪器采用气相色谱法进行测量，能够精确测定EOG浓度，且不受其他共存气体的干扰。

能够进行H2~C6以上18种成分的分析 H2、O2、N2、CH4、CO、CO2、C2H4、C2H6、C3H8、C3H6、i-C4H10、n-C4H10 i-C4H8、t-2C4H8、c-2C4H8、i-C5H12、n-C5H12、以及C6

YP300可用于多种金属的分析，包括最常见的各类钢铁、铝合金、铜合金、锡合金、镍合金等。 YP300有着优秀的分析精度，不管是在紫外区元素还是可见光区域的元素；在铸铁的测试分析中优异的稳定性，并且可分析低合金钢、铸铁中的低含量的氮元素，也可以分析铜中的氧元素。

高温/高压拉伸釜

氢渗透测试仪