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氢气中杂质分析仪

产品简介:氢气中不纯物质高灵敏度测定系统(He,N2,Ar,CO2,CO,THC)
利用搭载高灵敏度、通用型脉冲放电氦离子化检测器(HPID)的JSLGAS5000型气相色谱仪,建立了高纯氢气中杂质的测定方法。该方法采用全自动吹扫型气体进样,利用多阀组合切割技术,一次进样即可实现高纯氢中微量或痕量氧、氮、一氧化碳、甲烷、二氧化碳、乙烯、乙烷和乙炔等杂质的准确测定。

产品型号:GAS50000系列

更新时间:2024-12-19

厂商性质:经销商

访 问 量 :577

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产品介绍

氢气作为一种重要的原料和能源,广泛用于石油化工、电子、冶金、食品、浮法玻璃、精细有机合成航空航天等领域。氢气来源广泛,从工业副产氢、化工原料制氢和化石能源制氢到绿色的电解水制氢可生产出满足不同需求质量的产品。由于氢气纯度直接影响装置能耗和产品质量,因此工艺上总希望能使用更高纯度的氢气。
近年来,为实现“碳达峰"、“碳中和"的目标中国政府大力扶持氢能源、氢燃料电池汽车产业的发展以及充电、加氢站等设施建设,这进一步激发了市场对高纯氢气的需求。关于氢气纯度的检测,特别是对高纯氢、超高纯氢的质量分析日益成为热点。
通过配置热导检测器(TCD)和镍转化炉加氢火焰离子化检测器(FID)的气相色谱传统分析检测方案已不能满足更低含量杂质的检测要求,而脉冲放电氦离子化检测器(HPID)作为一种通用型的高灵敏度检测器,其实际应用变得愈加广泛。
本文采用JSLGAS5000气相色谱仪HPID,建立了高纯氢气中杂质的测定方法。一次进样后即可准确定性定量检测高纯氢中氧、氮、一氧化碳、甲烷、二氧化碳、乙烯、乙烷和乙炔等杂质符合 GB/T 3634.2-2011、GB/T37244-2018 和GB/T16942-2009的要求。


氢气中不纯物质高灵敏度测定系统(He,N2,Ar,CO2,CO,THC)


利用搭载高灵敏度、通用型脉冲放电氦离子化检测器(HPID)的JSLGAS5000型气相色谱仪,建立了高纯氢气中杂质的测定方法。该方法采用全自动吹扫型气体进样,利用多阀组合切割技术,一次进样即可实现高纯氢中微量或痕量氧、氮、一氧化碳、甲烷、二氧化碳、乙烯、乙烷和乙炔等杂质的准确测定。



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