18501646412
PRODUCTS CENTER

产品展示

  • 半导体气体中的痕量杂质分析系统

    半导体气体痕量杂质分析系统专为满足半导体制造日益严格的需求而设计,用于检测特种气体中的痕量杂质及组分含量。随着半导体技术在通信、信息处理等领域的广泛应用,制造过程中使用的气体种类和数量显著增加,对杂质控制提出了更高要求。该系统采用优良的气相色谱法,实现自动化、高精度分析,确保气体纯度符合半导体工艺标准。通过高效检测痕量杂质,该系统显著提升半导体产品质量,降低缺陷率,

    更新时间:2025-12-24
    产品型号:
    浏览量:81
    查看更多  +
共 1 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
  • 联系地址

    上海市闵行区剑川路953弄322号227室(交大科创园)
  • 联系邮箱

    shiwei.yang@163.com
  • 联系电话

    021-61434006
  • 联系QQ

    512505020

版权所有©2025 颐谱(上海)仪器有限公司   备案号:沪ICP备2023033039号-1

技术支持:化工仪器网  管理登陆  sitemap.xml